F1探頭
測頭型號
F1
工作原理
磁感應(yīng)
測量范圍（um）
0-1250
低限分辨力(um)
0.1
示值誤差
一點校準(zhǔn)(um)
±[3%H+1]
兩點校準(zhǔn)(um)
±[(1～3)%H+1]
測量條件
*小曲率半徑(mm)
凸1.5
基體*小面積的直徑(mm)
ф7
*小臨界厚度(mm)
0.5
探頭尺寸（mm)
ф12X47
F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT270涂層測厚儀的標(biāo)配探頭。
N1探頭
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測頭型號 |
N1 |
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工作原理 |
電渦流 |
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測量范圍（um） |
0-1250(銅上鍍鉻0-40um) |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1.5] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+1.5] |
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測量條件 |
*小曲率半徑(mm) |
3 |
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基體*小面積的直徑(mm) |
ф5 |
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*小臨界厚度(mm) |
0.3 |
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探頭尺寸（mm) |
ф15X73 |
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F1/90探頭
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測頭型號 |
F1/90 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-1250 |
|
|
低限分辨力(um) |
0.1 |
|
|
示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
|
兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+1] |
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|
測量條件 |
*小曲率半徑(mm) |
平直 |
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基體*小面積的直徑(mm) |
ф7 |
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*小臨界厚度(mm) |
0.5 |
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探頭尺寸（mm) |
7.5X11X200 |
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F10探頭
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測頭型號 |
F10 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-10000 |
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低限分辨力(um) |
10 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+10] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+10] |
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測量條件 |
*小曲率半徑(mm) |
10 |
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基體*小面積的直徑(mm) |
ф40 |
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*小臨界厚度(mm) |
2 |
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探頭尺寸（mm) |
ф27X47 |
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F400探頭
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測頭型號 |
F400 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
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測量范圍（um） |
0-400 |
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低限分辨力(um) |
0.1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
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兩點校準(zhǔn)(um) |
±[(1～3)%H+0.7] |
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測量條件 |
*小曲率半徑(mm) |
凸 1 |
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基體*小面積的直徑(mm) |
ф3 |
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*小臨界厚度(mm) |
0.2 |
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探頭尺寸（mm) |
ф12X55 |
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CN02探頭
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測頭型號 |
CN02 |
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工作原理 |
電渦流 |
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測量范圍（um） |
10-200 |
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低限分辨力(um) |
1 |
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示值誤差 |
一點校準(zhǔn)(um) |
±[3%H+1] |
|
兩點校準(zhǔn)(um) |
- |
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測量條件 |
*小曲率半徑(mm) |
平直 |
|
基體*小面積的直徑(mm) |
ф7 |
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*小臨界厚度(mm) |
無限制 |
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探頭尺寸（mm) |
ф16X67 |
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